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  • GDC4005高低温冲击试验箱
    高低温冲击试验箱GDC4005适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。试验箱下部为低温区,上部为高温区,试件放置在试验箱中部,高温冲击时上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通,形成三箱法试验。试件可静止不动,避免了用户因试件移动带来的诸多不便。采用进口全封闭风冷压缩机,进口可触式控温仪表。
  • GDC6010高低温冲击试验箱、GDC6010
    高低温冲击试验箱、GDC6010适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。试验箱下部为低温区,上部为高温区,试件放置在试验箱中部,高温冲击时上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通,形成三箱法试验。试件可静止不动,避免了用户因试件移动带来的诸多不便。采用全封闭风冷压缩机,可触式控温仪表。
  • GDC6005高低温冲击试验箱、GDC6005
    高低温冲击试验箱、GDC6005适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。试验箱下部为低温区,上部为高温区,试件放置在试验箱中部,高温冲击时上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通,形成三箱法试验。试件可静止不动,避免了用户因试件移动带来的诸多不便。采用全封闭风冷压缩机,可触式控温仪表。
  • GDC4010高低温冲击试验箱GDC4010
    高低温冲击试验箱GDC4010适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。试验箱下部为低温区,上部为高温区,试件放置在试验箱中部,高温冲击时上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通,形成三箱法试验。试件可静止不动,避免了用户因试件移动带来的诸多不便。采用全封闭风冷压缩机,可触式控温仪表。
  • GDC6005高低温冲击试验箱GDC6005
    高低温冲击试验箱GDC6005适用于电子零部件、半导体、电子线路板、金属材料等行业测试。试验箱下部为低温区,上部为高温区,试件放置在试验箱中部,高温冲击时上风门打开,形成高温内循环。低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。如有需还可以与环境温度连通,形成三箱法试验。试件可静止不动,避免了用户因试件移动带来的诸多不便。采用进口全封闭风冷压缩机,进口可触式控温仪表。

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